OTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLA 塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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代理日本品牌：OTSUKA大塚电子（薄膜测厚仪、相位差膜设备等）、USHIO牛尾点光源、CCS检查光源、Aitec艾泰克...

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第8年

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产品名称：OTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLA
产品型号：nanoSAQLA
产品厂商：OTSUKA大塚电子
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简单介绍：

nanoSAQLA OTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLA

详情介绍：

nanoSAQLA

OTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统

nanoSAQLA是由动态光散射法（DLS法）的粒子直径测量（粒子径0.6nm～10μm）装置。

还搭载了各种各样追求品质管理的需求的功能。

在稀薄～浓厚系为止在广浓度范围内实现了多检体测量对应的新光学系，用拉布必须的轻量·小型化，标准1分的高速测量。

另外，不受非浸染型的调谐器的影响，没有自动取景器的“5检体连续测量”的标准装备了新产品。

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特长：

1台简单地5检体连续测量

从稀薄到浓厚的关系

标准测量时间1分的高速测量

搭载简单测量功能（一个点击可以开始测量）

非浸泡型的单元格块内没有分注的转换器

搭载温度凹陷功能

測定範囲（理論値）

粒子径 0.6nm～10μm
濃度範囲 0.00001～40％
温度範囲 0～90℃*

仕　様

型式	多検体ナノ粒子径測定システム
測定原理	動的光散乱法
光源	高出力半導体レーザー ^*1
検出器	高感度APD
連続測定	5検体
測定範囲	0.6nm ～ 10μm
対応濃度	0.00001 ～ 40% ^*2
温度	0 ～ 90℃ （温度グラジエント機能あり） ^*3
規格	ISO 22412：2017 準拠 JIS Z 8828：2013 準拠 JIS Z 8826：2005 準拠
サイズ	W240 X D480 X H375 mm
重量	約18 kg
ソフトウェア	平均粒子径解析（キュムラント法解析）
	粒度分布解析（Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法）
	粒度分布重ね書き
	逆相関関数・残差プロット
	粒子径モニター
	粒子径表示範囲（0.1 ～ 10⁶ nm）
	分子量計算機能