产品名称：TSI美国 1nm 扫描迁移率粒径测定仪

TSI美国进口 1nm 扫描迁移率粒径测定仪 （SMPS）  3938E57
TSI美国进口 1nm 扫描迁移率粒径测定仪 （SMPS）  3938E57
将测量结果**到检测限度：扫描小至 1 nm 的颗粒。以高分辨率和速度测量小至 1 nm 的颗粒的大小和数量浓度。**代 1 nm 粒度测定仪器建立在 TSI 30+ 年的扫描迁移率粒测定仪 （SMPS™） 光谱仪专业知识之上。SMPS 系统包括 Nano Enhancer 3757 和差分迁移率分析仪 （DMA） 3086，使您能够监测*小、关键尺寸的反应动力学和工程和天然气溶胶颗粒的新颗粒形成。
产品详情
1nm 扫描迁移率粒径谱仪 （SMPS™） 光谱仪系统结合了 TSI 在颗粒分类和计数方面的历史优势，以及允许测量小至 1 nm 颗粒的新技术。优化的差分迁移率分析仪 3086 进一步减少了那些*小颗粒的扩散损失。在 DMA 和标准冷凝粒子计数器 （CPC） 之间，Nano Enhancer 3757 使用二甘醇预生长 1 nm 颗粒，以便 CPC 进行检测。新的 Nano Enhancer 设计加强了 CPC 和 Nano Enhancer 之间的集成，使设置和系统使用变得更加容易。
将这些组件结合起来，研究人员可以将粒子研究推向令人兴奋的新领域。主要应用包括：
大气研究 - 监测新颗粒的形成和动力学、云凝结，并缩小质谱仪和常规粒度分布测量之间的差距。非常适合研究高污染城市中 3 nm 以下的颗粒、颗粒源和健康影响研究。
材料科学 - 通过可靠、近乎实时的反馈监测和表征亚 3 nm 颗粒。该系统非常适合基于气溶胶的工程纳米颗粒合成、纳米颗粒功能化、纳米级分析化学、反应动力学控制和催化剂合成。
1nm SMPS™ 光谱仪不仅仅是另一个从 1 nm 开始观察成核爆发的探测器;它是一个成熟的粒子光谱仪，可以显示这些事件中存在的尺寸分布，具有****的分辨率。
组件的模块化设计使其易于定制系统，以*适合您的测量需求：节省您的时间和**。如果您已经拥有一台配置了 3750 CPC 的 3938 系列 SMPS™ 系统，则只需添加 1nm DMA 和 Nano Enhancer。您的分类器和**中和剂将保持不变，您将免费获得*新版本的气溶胶仪器管理器®软件。
应用
基础气溶胶研究
研究来自粒子源的粒子成核和粒子生长，例如火焰合成、激光烧蚀、火花产生和成核/冷凝
燃烧和发动机尾气研究（有机燃料、低于 3 nm 的排放、天然气发动机、塑料成型和焊接）
过滤研究
吸入或暴露室研究
健康影响研究
特性和优势
关于分子量和数量浓度的快速、高分辨率数据经过优化，扩散损失*小
1 至 50 nm 之间的 217 个通道
能够测量 3081A Long DMA 的三十倍级尺寸，从 1 nm 到 1 μm
模块化组件设计，可进行定制，以*好地满足测量需求，例如独立使用 1nm CPC
内置诊断和系统组件自动检测功能，确保可靠和可靠的测量数据
易于设置和使用 Aerosol Instrument Manager® 软件
隐蔽的颗粒测量：适用于多模式样品
*特性和优点假设SMPS™光谱仪包括：3082分级器，1nm-DMA，纳米增强剂3575和冷凝粒子计数器3750。