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TT220涂层测厚仪的校准方法

发布时间：2013-11-20

让TT220涂层测厚量测精度,量测在地方校准TT220涂层测厚。
一、校准指标TT220块(包括箔和衬底)
已知厚度的铝箔层厚度的样品是已知的或可作为校准指标。以下简称指标。
⒈ 校准箔
对于TT220涂层测厚“衬托”指的是箔或非金属或垫片。“衬托”校准表面上。
2。覆盖指标块
利用已知的、统一的、与基体牢固结合封面作为指标。针对仪表、涂料应磁。
**,矩阵的TT220涂层测厚
⒈ 对于TT220涂层测厚指标基体金属的磁性和表面粗糙度,测试应该保持与基质金属磁和表面粗糙度是相似的。为了证实的适用性指标片,可用指标块衬底和测试下比较量测读数在衬底。
2。如果在试样厚度的贱金属不超过临界厚度参数中指定的表,校准可以采用以下两种方法:
1)在矩阵与被测试件相同的金属芯片上的校准指标;
2)有足够的厚度、电或磁特性类似于金属垫片指标或标本,但它必须在贱金属和衬金属没有间隙。在双方有包层标本,不能使用衬法。
3。如果曲率的涂料在测试达到了校准不能在飞机上,有覆盖层的曲率的指标片或曲率的基质金属在校准衬托,应采用与曲率的标本。
三、校准方法
TT220涂层测厚,有两种校准方法,量测的零校准;两个点校准;还有一个基本校准的量测头。
⒈ TT220涂层测厚的零点校准
a .量测在衬底,仪表显示< *。*亩m >。
b .单击“/ C”键,屏幕是< 0.00μm >零校准完成。
c .**校准零,请重复上述a和b获得矩阵量测值小于1μm,它有利于提高量测精度。完成后的零点校准可以量测。这两个点校准TT220涂层测厚

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