X 射线荧光分析的工作原理

    使用X射线直接照射试样,测定由此产生的2次X射线(X射线荧光)的能量强度.用此法可无须破坏样品进行样品定性分析和定量分析.与其他分析方法相比,处理更简单,可快速分析,这是X射线荧光分析的一大特长。