奥林巴斯BXiS可创建个人专属的奥林巴斯系统，拍摄功能强大能拍您所需要的图像

奥林巴斯显微镜观察暗视场观察法，暗视场可以让用户观察来自样本散射和衍射的光线。光源的光线会先穿过照明装置中的环形光学照明器件，然后在样本上聚焦。样本上的光线只是由Z轴上的瑕疵反射形成。因此，用户可以观测到比光学显微镜分辨率极限更小、8nm级的微笑划痕和缺陷。暗视场适合检测样本上的微小划痕及瑕疵和检查表面光滑的样本、包括晶圆。

偏振光观察法。奥林巴斯显微镜观察技术所使用的偏振光是由一组滤镜产生的。样本特征会直接影响系统反射的强度。该观察法适用于金相组织。比如矿物、LCD和半导体。

IR（红外线）观察法

奥林巴斯显微镜对使用了硅片、玻璃等易投射红外线的电子设备的内部进行无损检测时，IR观察十分有效。IR物镜也可用于近红外线技术，例如拉曼光谱仪和YGA激光修复应用。

处理滤镜。OLYMPUS　Ｓｔｒｅａｍ用于各种滤镜，可用于边缘检测平滑处理和其它操作。使用处理滤镜在拍摄的图像上进行增强和修改出来后，图像的特征变为可视化。为达到*佳效果，可使用预览图检或调整滤镜的效果。