岱美中国拿到采购Filmetrics膜厚测量仪F40-UV的订单。该客户是上海一知名高校物理学院，主要研究的是高分子聚合物材料的性质，其主要用我们的F40-UV测量镀层的厚度，显微镜是用他们学校内部的显微镜。
F40-UV膜厚测量仪采用的是波长范围在200-1100nm的紫外可见光干涉测量，能够测量4nm-20um范围的膜层厚度，精度高达0.032nm，配置显微镜，能够清晰扫描膜层表面细微结构，非常适合测量膜层表面细微位置厚度。
（系统将于2012年1月交付，安装和和验收）
F40-UV膜厚测量仪采用的是波长范围在200-1100nm的紫外可见光干涉测量，能够测量4nm-20um范围的膜层厚度，精度高达0.032nm，配置显微镜，能够清晰扫描膜层表面细微结构，非常适合测量膜层表面细微位置厚度。
（系统将于2012年1月交付，安装和和验收）
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