测量显微镜 176 系列 — 测量显微镜

测量显微镜
MF 测量显微镜具有可扩展性，如与三丰
公司 Vision Unit 一起使用可提高其性能，
或者可在 PC 中进行数据管理，从而确保提
高效率。

测量显微镜
观察、测量和处理系统化的显微镜阵容
MF
176 系列 — 测量显微镜
MF 测量显微镜具有可扩展性，如与三丰
公司 Vision Unit 一起使用可提高其性能，
或者可在 PC 中进行数据管理，从而确保提
高效率。
特点
•可观察清晰无闪烁正像，且视场开阔。
•测量精度在同类设备中高
(符合 JIS B 7153 标准)。
•使用 ML 系列，专门为 MF 系列设计的高
-NA 物镜 (长工作距离型)。
•照明装置 (反射／透射) 可选用高亮度 LED
灯泡或卤素灯泡 (必选)。
•利用可变孔径光阑 (反射／透射) 可进行无
衍射观察测量。
•各类标准工作台的尺寸大达到 400 ×
200mm。
•快速释放装置便于在测量工件大或测量
工件数量多时快速移动工作台。
•粗调／细调进给手柄作为标准配置安装在
两侧，便于准确聚焦与观察测量，不受
用左手或右手习惯的影响。
•高倍目镜观察，高达 2000X。
•标准测量显微镜，配有种类繁多的可选附
件，包括 Vision Unit 影像装置与各种 CCD
数码相机。
性能参数
型号 (XY 工作台尺寸) 1010C 2010C 2017C 3017C 4020C
货号 * MF-A 176-662* 176-663* 176-664* 176-665* 176-666*
MF-B 176-682* 176-683* 176-684* 176-685* 176-686*
XY 工作台行程范围 100 x 100mm 200 x 100mm 200 x 170mm 300 x 170mm 400 x 200mm
Z 轴移动范围 150mm 150mm 220mm 220mm 220mm
调焦方式 手动调焦 (粗调焦 : 30mm/rev., 微调焦 : 0.2mm/rev.)
测量方法 线性编码器 (2 轴型 : X / Y 轴 , 3 轴型 : X / Y / Z 轴)
分辨率 (可转换) 0.001mm / 0.0005mm / 0.0001mm
测量精度 (20ºC 时) XY 轴 : (2.2+0.02L)µm, L 为无负载测量长度 (mm), JIS B 7153
指示精度 (20ºC 时) Z 轴 : (5+0.04L)µm, L 为测量长度 (mm)
浮动功能 带有快速释放功能的 X 和 Y 轴
XY 工作台台面尺寸 280 x 280mm 350 x 280mm 410 x 342mm 510 x 342mm 610 x 342mm
载物玻璃有效尺寸 180 x 180mm 250 x 150mm 270 x 240mm 370 x 240mm 440 x 240mm
旋转功能 — — ±5˚ (左) ±5˚ (左) ±3˚ (左)
台面大承重 10kg 10kg 20kg 20kg 15kg
大工件高度 150mm 150mm 220mm 220mm 220mm
*在货号后加上以下后缀 (如 : 176-662-10): -10 适于英国手动用户 11 适于中国手动用户 , 无后缀适于日本手动用户