雷尼绍REVO®五轴测量系统(坐标测量机) REVO

• ENGIMACH 2010*具**性产品铂金奖
• Micronora 2008**微米技术金奖
• MWP2008*佳质量控制产品或系统奖

 REVO^®采用同步运动和Renscan5™测量技术，可极大降低坐标测量机在超高测量速度下的动态效应。

这通过让REVO^®测座在坐标测量机做慢速线性运动的同时做要求极高的快速运动来实现。采用灵活的端部感应技术进一步增强了系统精度和灵活性。可拆卸的测头系统配用低成本的交换架，提高了系统灵活性。 

 雷尼绍的UCC2坐标测量机用控制器嵌入了Renscan5™技术，这构成了五轴测量系统的基础 — 其中两个轴为旋转轴，位于测量机Z轴轴套上。UCC具有**的软件功能可提供独特的运动指令、同步和五轴测量功能。

为实现高扫描速度，五轴测量系统具有完全集成的控制环是很重要的。这可以通过雷尼绍的UCC2和SPA2-2系统来实现。

REVO®系统测头选项

RSP2扫描测头

 RSP2是一种专门用于REVO^®系统的精巧的端部感应测头，能够进行二维扫描 (x, y) 和三维触发测量。RSP2有一个通用的测头体，多种不同长度、*大工作长度可达500 mm的测针架均可安装在上面。

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RSP3扫描测头

 RSP3-#系列是RSP2测头的补充，为REVO系统提供三维 (x,y,z) 扫描能力，并可安装测针曲柄进行测量。它用于三轴扫描，例如在测量过程中，使用固定的REVO^®测座角度。该测头系列可以使用不同长度的测针，同时保持优异的测量性能

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SFP1表面粗糙度检测测头

 表面粗糙度量测通常需要使用手持式传感器，或需要将工件搬到专用测量机上。REVO^®SFP1测头将表面粗糙度检测整合到坐标测量机测量程序，并将表面粗糙度分析数据整合到测量报告中，从而突破了上述局限性。

SFP1是一种专门用于REVO^®系统的精巧型端部感应测头，能够进行表面粗糙度测量，并具有可以安装不同表面粗糙度检测测针的通用测头体。

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REVO^®交换架系统

RCPTC和RCP的更多信息。

 对传统的坐标测量机用测量系统进行校准需要花费大量的时间，而这些时间本可用来测量工件。为REVO专门开发的独特校准方法可测定测座和测头的实际几何尺寸，允许在单个操作中在任意位置进行测量，从而大大缩短了校准时间。

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 用传统方法测量阀门座和阀导既困难又耗时，而且通常不能提供足够的测量能力。

REVO和雷尼绍的Renscan5™技术在很大程度上改变了这种状况。现在可以非常快速地采集大量数据，通过这些数据可以计算出阀门座和阀导特征的分析参数。重复性和再现性测试验证了该方法**的适用性。

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