电气绝缘材料电容率和介电常数测试装置 GDAT-C

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产品型号:GDAT-C
 牌:北广精仪
公司名称:北京北广精仪仪器设备有限公司
  地:北京海淀
发布时间:2018-07-16
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产品简介

电气绝缘材料电容率和介电常数测试装置高频介质损耗测试系统由S916测试装置(夹具)、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成,它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的*佳解决方案。

产品详细信息

电气绝缘材料电容率和介电常数测试装置1、《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件,它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化,测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司*新研制的更新换代产品,精密的加工设计、**的LCD数字读出、一键式清零功能,克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。
2电气绝缘材料电容率和介电常数测试装置基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表,其数码化主调电容器的**设计代表了行业的*高成就,随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面,采用LCD液晶屏显示各测量因子:Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH200KHz-160MHz,频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε),把被测材料作为平板电容的介质,与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路,以获取*高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。
  GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ,无须关注量程和换算,彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况,它无疑是电工
材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。
 
3、数据采集和tanδ自动测量控件(装入GDAT),实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化,tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理,因而提高了数据的**度和测量的同一性,是人工读值和人工计算无法比拟的。


附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表
BH916测试装置
GDAT高频Q
平板电容极片
Φ50mm/Φ38mm可选
频率范围
20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
间距可调范围
≥15mm
频率指示误差
3×10-5±1个字
夹具插头间距
25mm±0.01mm
主电容调节范围
30-500/18-220pF
测微杆分辨率
0.001mm
主调电容误差
<1%1pF
夹具损耗角正切值
4×10-4 1MHz)
Q测试范围
21023
 
附表二,LKI-1电感组典型测试数据
线圈号
测试频率
Q
分布电容p
电感值
9
100KHz
98
9.4
25mH
8
400KHz
138
11.4
4.87mH
7
400KHz
202
16
0.99mH
6
1MHz
196
13
252μH
5
2MHz
198
8.7
49.8μH
4
4.5MHz
231
7
10μH
3
12MHz
193
6.9
2.49μH
2
12MHz
229
6.4
0.508μH
1
25MHz
50MHz
233
211
0.9
0.125μH

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