美国能源之星lm80上海LED灯老化光衰寿命测试仪器 lm80

产品简介：可视窗口 220*180（W*H）MM
内部尺寸（标配） 500*300*300（W*H*D）MM；
外部尺寸（标配） 1580*1520*500（H*W*D）MM；

美国能源之星lm80上海LED灯老化光衰寿命测试仪器半导体工作台的尺寸（标配） 每个单元：153*220（L*W）MM，设备输入电源功耗 AC38V三项供电设备自身的功耗子8KW（按标准配置）。使用环境要求 5°C ≤ 环境温度 ≤ 35 °C ，使用环境：安装在有空调控制和排风抽风装置，工作台散热方式 ：风扇制冷。

美国能源之星lm80上海LED灯老化光衰寿命测试仪器

系统参数包括温度，湿度，环境参数:
Ts 温度范围 常温 ～+150°C；
温度波动度 ±0.5°C；
温度均匀度 ±1.5°C箱体内气流 <0.3m/s；
测试容量参数:
温度偏差 ±0.3°C；
温度分辨率 0.01°C；
湿度范围 <65%RH；

美国能源之星lm80上海LED灯老化光衰寿命测试仪器独立工作间测试容量112W，*大测试功率为6*112W。
测试周期，测试时间 控制参数:
测试周期（小时） 6000小时，7000小时，8000小时，9000小时，10000小时以上；
测试间隔（小时） 1，10，100，1000，2000，3000，4000小时...
系统老化时间设定 设定开/关机的实时时间，格式为2012-07-12 15：02，老化时间分辨率 分钟，老化产品分组 6，总时间不确定度 ±0.5%。

美国能源之星lm80上海LED灯老化光衰寿命测试仪器温度实时采集，远程监测 系统参数:
系统稳定采集通道数 标准配置40通道YOKOGAWA MW100数据采集控制器（40以上选配）高速测量 *短测量周期为10ms，多测量周期 一个主单元可以混合3种测量周期*大可支持2GB的CF卡。*6(快闪存储卡),使用2GB的CF卡，在60ch/100ms时可连续采集数据约10天，60ch/1s时可连续采集约3个月，稳定采集时间分辨率 10ms-500ms，温度精度 ±0.1°C
美国能源之星lm80上海LED灯老化光衰寿命测试仪器电流源系统参数:
通道数 标配40个通道（选配*大可达1000个）；
电流量程 0-1A，0-10A，0-20A以上；

通道间连接方式 通道间可以并联以增大电流，分辨率 1mA；
波纹 电压的纹波噪声不超过输出电压的2%；
老化电流精度 老化测试时输入电流应控制在额定电流的±3%；
测试电流精度 光学测试时输入电流应控制在额定电流的±0.5%

美国能源之星lm80上海LED灯老化光衰寿命测试仪器电压表系统参数:电压量程 0-150V(选配可达400V)；分辨率 0.1V。

美国能源之星lm80上海LED灯老化光衰寿命测试仪器寿命测试板系统参数:                         
兼容性良好 可以依据不同尺寸的测试样品，在一定范围内调整寿命测试板，夹持样品；安装LED 一个寿命测试板可以安装多颗LED，方便快捷；拆卸要求 ：寿命测试板可以安装于温度箱，也可以安装于光度测量系统中，以减小用户工作量，实现在线测试。测量装卸 在老化时安装多颗LED，在光度测量时不需要拆卸LED,可以对固定在寿命测试板上的LED直接进行光度**测量。