新型SIDSP技术涂层测厚仪 MINITEST 720/730/740
产品简介
新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740涂层测厚探头是采用SIDSP技术的智能数字化测试设备,数字信号处理取代模拟信号处理时代,新型SIDSP技术涂层测厚仪将成为未来涂层膜厚仪的发展趋势。
产品详细信息
新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740特点概述:
SIDSP使测量不受干扰,测值更加
可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
温度补偿功能避免温度变化引起的错误
生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
读数和统计值能单独调出
超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
菜单指引操作,25种语言可选
带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
可下载更新软件
新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740之SIDSP技术解析:
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,世界的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的**奠定了新标准。SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界技术生产。
新型SIDSP技术涂层测厚仪工作原理如下:
跟传统技术不同,SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号,回传的信号经过32位数字转换和处理,带给您的涂层厚度值。此项的数字处理技术,同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转换,平均值,随机分析,等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。SIDSP探头与普通模拟探头相比,具有决定性的优势,为涂层测厚设定了一个新的标准。
新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740优势介绍:
1、MINITEST 720/730/740涂层测厚仪增加了测量速度设置选项
MINITEST 700可以让您轻松变换测量需求。在对精度要求不高的条件下,您可以短时间测量大量数值;也可以只测量少数几个数值,但要求精度很高,您只需选择相应的模式就可以做到。测量值超过您所设定的极限值时,仪器会报警,保证您即使在快速模式下也不会错过任何信息。仪器具备声、光报警,在极限范围内用绿色LED灯表示,超过极限值则用红色LED灯提示。
2、MINITEST 720/730/740涂层测厚仪使用简单方便
MINITEST 700按照人体工学设计,外形很适合人手掌握。为了质量控制和检验的灵活性,MINITEST 740可以轻易由内置探头变换为外置探头,方便测量难以到达的部位。MINITEST 700系列可以满足您所有涂层测量需求:如果您想单手测量,可以选择内置探头的720。730则是外置探头的。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏,显示内容可以180度旋转,方便您读取数据。
3、预设选项节省您的时间和**
所有MINITEST 700探头都可以对不规则形状表面做出补偿。当您在无涂层基体上校零时,整个量程范围都在这个特定的形状和材料基础上进行校准。为节省您的时间和**,仪器预设了大量校准方法,适用于各种表面情况和精度要求。您可选择出厂校准,零点校准,2点校准和3点校准。另外,还有针对不同粗糙程度的粗糙度校准。FN探头自动识别基体类型避免操作者犯错。
4、新的MINITEST 700产品线,加强了EPK在全球涂层测厚市场的领导地位
有了新的SIDSP F型探头(测量铁基体)和N型探头(测量非铁基体),您可享受到高度和高重现性带给您的优势和便利。新的MINITEST 700可以解决您所有涂层厚度问题,而产品**的外观是您长期价值和成功的关键,比如汽车、造船、钢铁、桥梁建筑,或电镀等行业。
新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740技术规格:
1、测厚仪主机
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MINITEST 720 |
MINITEST 730 |
MINITEST 740 |
探头类型 |
内置 |
外置 |
内置外置可换 |
数据记忆组数 |
10 |
10 |
100 |
存储数据量 |
多10,000个 |
多10,000个 |
多100,000个 |
统计值 |
读值个数,小值,大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置) |
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校准程序符合标准和规范 |
ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准 |
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校准模式 |
出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值 |
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极限值监控 |
声、光报警提示超过极限 |
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测量单位 |
um,mm,cm;mils,inch,thou |
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操作温度 |
-10℃-60℃ |
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存放温度 |
-20℃-70℃ |
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数据接口 |
IrDA 1.0(红外接口) |
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电源 |
2节AA电池 |
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标准 |
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 |
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体积 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
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重量 |
约175g |
约210g |
约175g(内置)/230g(外置) |
2、SIDSP探头
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F1.5,N0.7,FN1.5 |
F2 |
F5,N2.5,FN5 |
F15 |
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F |
N |
F |
F |
N |
F |
|
测量范围 |
0-1.5mm |
0-0.7mm |
0-2mm |
0-5mm |
0-2.5mm |
0-15mm |
使用范围 |
小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用 |
粗糙表面 |
标准探头,使用广泛 |
厚涂层 |
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测量原理 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
信号处理 |
探头内部32位信号处理(SIDSP) |
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度 |
±(1μm+0.75%读值) |
±(1.5μm+0.75%读值) |
±(5μm+0.75%读值) |
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重复性 |
±(0.5μm+0.5%读值) |
±(0.8μm+0.5%读值) |
±(2.5μm+0.5%读值) |
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低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm |
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小曲率半径(凸) |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
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小曲率半径(凹,外置探头) |
7.5mm |
10mm |
25mm |
|||
小曲率半径(凹,内置探头) |
30mm |
30mm |
30mm |
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小测量面积 |
Φ5mm |
Φ10mm |
Φ25mm |
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小基体厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
连续模式下测量速度 |
每秒20个读数 |
|||||
单值模式下大测量速度 |
每分钟70个读数 |
新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740
1、标准配置:
带塑料手提箱,内含:
MINITEST 720(内置探头)
或MINITEST 730(外置探头)
或MINITEST740主机(不含探头,有各种探头可选)
校准套装含校准片和零板
操作使用说明CD,德语、英语、法语、西班牙语
2节AA电池
2、推荐配件:
F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架
新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740遵守标准如下:
标准:SSPC-PA2,ISO,瑞典(SS184160),澳大利亚(AS 3894.3),ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。
其他测试仪器:苏州圣光铁素体测试仪SP10a、瑞典蓝宝紫外线灯PS135.