膜厚计 W 系列
产品简介
日本KETT涂层测厚仪 >> W系列膜厚计采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）以及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
产品详细信息
W 系列膜厚计
日本KETT涂层测厚仪 >> W系列膜厚计说明:
有四个统计功能，可外接电脑。
有四个统计功能，可外接电脑。
日本KETT涂层测厚仪 >> W系列膜厚计技术指标:
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型号
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LE-300W
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LE-330W
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LE-200W
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LZ-330W
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LZ-200W
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测定方法
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电磁式
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电磁、高频涡流两用式
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测定对象
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磁性金属上非磁性涂镀层
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-
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非磁性金属上绝缘层
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测定范围
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０－1500um
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-
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涡流0-800um
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测定精度
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<50um±1um ＞50um±3%
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分辨率
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<100um 0.1um ＞100um 1um
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测试面积
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≥7×7um
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信号输出
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RS232C标准接口
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内置打印机
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有
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有
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统计功能
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测试数/*大值/*小值/平均值/标准偏差
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界限设定
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可设定上/下限数值
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测试单位
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公/英制转换
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显示方法
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LCD数显
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操作面板
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密封防水按键
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测头模式
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无线式
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附属品
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基体／校正标准片/电池/皮套／说明书
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电源
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DV6V5#碱性电池X4个
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AC200或DC6V
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体积
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主机90(W)Ｘ165(D)Ｘ31(H)
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主机140(W)Ｘ250(D)Ｘ80(H)
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测头26(W)Ｘ38(D)Ｘ134(H)
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重量
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本机500g
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本机1100g
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测头26g
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