探针式影像测量仪，二次元测量仪 EP系列
产品简介
主要特点 采用英国RENISHAW测头可实现部分三维尺寸接触式测量、实现三维几何尺寸的测量。 影像+探针的测量方式 ，充分解决几何测量中的难题。 采用“HIWIN”P级直线导轨和精密V型滚珠导轨,保证机器精度及使用寿命。 立柱和底座采用坚实的花岗岩结构、稳定可靠。 配备SBK-EP多功能3D测量软件，自动寻边,程控光源。 配备可移动可拆卸的仪器专用桌。 高清卡位变倍镜头和高分辩率CCD,实现产品高清晰度测量。 测量结果可输出Word 、Excel、CAD等格式。
产品详细信息
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E P系列技术参数 |
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型号 |
EP200 |
EP300 |
EP400 |
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测量范围(mm) |
200x100x200 |
300x200x200 |
400x300x200 |
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外型尺寸(mm) |
750*1300*1500mm |
750*1300*1500mm |
900*1400*1500mm |
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重量(kg) |
160 |
170 |
250 |
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承重(kg) |
20 |
25 |
25 |
测量精度(μm): 3+L/200
重复精度（mm）:0.003
测量方式：影像+探针
光栅尺: 1.0μm分辩率开放式玻璃光栅尺
图像传感器CCD: SBK-HC536 1/3英寸600线工业彩色相机
导轨: Z轴：“HIWIN”P级直线导轨 X、 Y轴：精密V型导轨
光学系统: 6.5:1连续变倍卡位镜筒
放大倍率: 光学放大倍率:0.7-4.5X;影像放大倍率:24-158X
软件: SBK-EP手动3D测量软件
轮廓光源系统: LED冷光源,256级亮度程控可调
表面光源系统:48颗LED冷光源,256级亮度程控可调
数据控制: SBK-3000专用数据控制器、USB接口、软件调节光源亮度
测头系统:英国“RENISHAW”MCP测座
操作方式: 手动
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