射线荧光测厚仪 TL01-X-CMI900
产品简介
简介: □适用范围:CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等,涉及到其它仪器不能检测的测试领域。 □服务优势:具有*多的服务网点和强大的技术支持 □测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm) □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0
产品详细信息
简介:
□适用范围:CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等,涉及到其它仪器不能检测的测试领域。
□服务优势:具有*多的服务网点和强大的技术支持
□测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm)
□测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)
用途:广泛应用于喷涂电镀等表层厚度的测量