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尼康 半导体检测设备 精密测高/厚计/晶圆检查显微镜

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产品型号：精密测高/厚计/晶圆检查显微镜
品 牌：日本尼康Nikon
公司名称：苏州池瑞机电科技有限公司
所 在 地：江苏苏州
发布时间：2008-08-27
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产品简介

精密测高/厚计
L200/L200A半导体8寸晶圆检查显微镜◆倍率：25×1500×◆ 3-8寸晶片观察    	
OP-300 LCD及半导体12寸晶圆大型检查显微镜◆倍率：15×-2000×  ◆ LCD及12寸晶片专用 
NWL-641/860半导体晶片检查输送机◆4、5、6、8寸晶片传输检查专用◆可连接L150/L150A及L200/L200A半导体显微镜
L150/L150A高倍

产品详细信息


精密测高/厚计



 　
L200/L200A半导体8寸晶圆检查显微镜
◆倍率：25×1500×
◆ 3-8寸晶片观察  



 
OP-300 LCD及半导体12寸晶圆大型检查显微镜
◆倍率：15×-2000×  
◆ LCD及12寸晶片专用 



　
L150/L150A高倍金相显微镜
◆倍率：25×-1500×           
◆3-6寸晶片及金属表面组织观察



 
NWL-641/860半导体晶片检查输送机
◆4、5、6、8寸晶片传输检查专用
◆可连接L150/L150A及L200/L200A半导体显微镜

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苏州池瑞机电科技有限公司
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