双晶片直探头检验用对比试块 GB/T2970-2004
产品简介
GB/T2970-2004双晶片直探头检验用对比试块板厚小于等于60mmGB/T2970-2004双晶片直探头检验用对比试块,无损检测试块 超声波探伤试块 超声波检测试块 铁道部试块,100*100*16mm--X型焊缝自然缺陷试块
产品详细信息
板厚小于等于60mmGB/T2970-2004双晶片直探头检验用对比试块
GB/T2970-2004单晶片直探头检验用对比试块
试块编号 校检验钢板厚度 平底孔距离S 试块厚度T
1 大于13-20 7 大于15
2 大于20-40 15 大于20
3 大于40-60 30 大于40
4 大于60-100 50 大于65
加定型
5 大于100-160 90 大于110
6 大于150-200 140 大于170
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100*100*16mm--X型焊缝自然缺陷试块
化学成份分析(Chemical Element Analysis) %
执行标准(Standard):GB/T699-1999
CSK-IA,IIIA, ASME-,45#钢焊缝自然缺陷试块,检测灵敏度DAC+3dB检测面单侧双面
扫查方法据齿形扫查
检测结果