x射线膜厚仪 X-RAY XULM X-RAY XULM® XYm

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产品价格： ¥300000.00

产品型号：X-RAY XULM X-RAY XULM® XYm

品牌：德国菲希尔Fischer

公司名称：苏州圣光仪器有限公司

所在地：江苏苏州

发布时间：2018-07-17

浏览次数：4980 次

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产品简介

x射线膜厚仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM以及XULM® XYm是应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上的镀层厚度和成分分析。x射线膜厚仪又称x-ray荧光分析仪或者x-ray膜厚仪

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM系列分为XULM和XULM-XYm两款，X射线光谱仪，用于细小零部件上镀层厚度的无损测量和成分分析。

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm简介

FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上的镀层厚度和成分分析。

为了使每次测量都能在优的条件下进行，XULM配备了可电动调整的多种准直器及基本滤片。

比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了Fischer基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。

XULM型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

本款仪器特别适合用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型的应用领域有：

微小零部件、接插件和线材上镀层厚度的测量

印制线路板上手动测量

珠宝手表业中的镀层厚度测量及成分分析

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。根据使用用途，有以下两种不同版本型号，分别对应不同样品平台：

XULM：固定平面平台

XULM XYm：手动X/Y平台

高分辨的彩色摄像头配以强大的放大功能，可以定位测量位置。

尽管仪器本身结构紧凑，但是由于XULM光谱仪配备了宽敞的测量室，从而可以测量更大体积的样品。

外罩底部留下了空隙，可方便地测量超出测量室大小的大尺寸扁平样品，如大面积的印制线路板等。

通过强大且界面友好的WinFTM®软件，可以在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。

XULM型光谱仪是型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防护措施的测量仪器。

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm通用规范

用途	能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用于测量镀层厚度和材料分析
可测量元素范围	从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM® BASIC，可多同时测量24种元素
设计理念	台式仪器，测量门向上开启
测量方向	由下往上

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYmX射线源

X射线靶材	带铍窗口的钨靶微聚焦射线管
高压	三种可调高压：30 kV，40 kV，50 kV
孔径（准直器）	4个可切换准直器：标准型(523-440)：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm 可选 (523-366)：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；Ø 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm 可选 (524-061)：圆形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm 可按要求定制其它规格
基本滤片	3种可切换的基本滤片（标准型：镍，无，铝）
测量点大小	取决于测量距离和使用的准直器的大小，视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸，使用矩形0.05 x 0.05mm准直器，小的测量点面积约为Ø 0.1 mm。
测量距离，如样品为腔体时	使用保护的DCM（测量距离补偿法）功能：测量距离为0 ~ 20 mm时，为已校准范围；测量距离为20 ~ 27.5 mm，为非校准范围。

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYmX射线探测器

X射线接收器	比例接收器
二次滤波器	可选：钴滤波器或镍滤波器

x射线膜厚仪|x-ray荧光分析仪|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm样品定位

视频显微镜

高分辨 CCD彩色摄像头，可用来观察测量位置十字线刻度和测量点大小经过校准

测量区域的LED照明亮度可调节

放大倍数

38 x ~184x (光学变焦: 38x ~ 46x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

X射线膜厚仪\|x-ray荧光分析仪\|x-ray膜厚仪X-RAY XULM、XULM-XYm电气参数
电压，频率	AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
功率	大为 120 W (测量头重量，不包括计算机)
保护等级	IP40
仪器规格
外部尺寸	宽x深x高[mm]：395 x 580 x 510
重量	约45 kg
内部测量舱尺寸	宽x深x高[mm]：360 x 380 x 240
环境要求
测量时温度	10°C – 40°C / 50°F – 104°F
存储或运输时温度	0°C – 50°C / 32°F – 122°F
空气相对湿度	≤ 95 %，无结露
计算系统
计算机	带扩展卡的Windows®个人计算机系统
软件	标准配置：Fischer WinFTM® LIGHT
可选配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER
执行标准
CE合格标准	EN 61010
X射线标准	DIN ISO 3497和 ASTM B 568
型式许可	型式许可符合德国”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防护措施的测量仪器。