GE新推出trueDGS 斜探头提高缺陷定量精度

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         日前,GE检测控制技术业务部门*新的的**技术trueDGS ,使超声斜探头在使用的DGS方法下提高定量精度。DGS 方法作为一种探测间断点的定量技术,在欧洲和世界许多国家都制定了标准(如EN 583-2)。新型的斜探头的DGS精度和圆形晶直探头一样,可作为单晶片探头和相控阵探头,应用于对精度、兼容性、超声检测有一定要求的工业领域。

  目前,斜探头主要使用DGS技术,探测和定量物料缺陷,DGS技术依赖于DGS算法。超声检测员在他的缺陷探测仪上能看到缺陷迹象提示,将之与DGS曲线匹配,就能确定与缺陷等价的反射物的大小。但是,DGS方法*初从直探头发展起来,使用圆形晶直探头。现在单晶片探头和超声相控阵探头因为折射原因,与直探头相比,具有不同的超声探测特性,在DGS评估中会有偏差。随着新一代的trueDGS 斜探头的发展,这一点问题已经得到了解决。

  正如该新型探头的***之一,GE的Wolf Kleinert所说:“新型探头的模型是用给定的圆形晶直探头计算的,在给定入射角和延长线长度的条件下,将探头中所有声波的特性转移到斜探头中。由此产生的点云形状决定了trueDGS 斜探头的传感器模型。

  CAD建模后,就能进行trueDGS 的制造,极大提高了其与相应DGS算法的匹配程度。同样的道理也适用于相控阵探头。因此,使用DGS的超声检测要**得多,减少了误判或者返工,。具有trueDGS技术的斜探头将延续*盛行的MWB系列探头的优势,并且GE所有于此相关的探伤仪都将包含相关软件。

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