马萨诸塞州波士顿市11月29日，2010 -布鲁克公司(纳斯达克股票代码：BRKR)今天宣布，在材料研究学会(MRS)的2010年秋季会议的AcuityXR?，一种新的光学表面轮廓模式相结合的独特的，正在申请**的布鲁克硬件和软件技术，使选择ContourGT?非接触式，三维光学表面廓线仪，打破光衍射极限，并提供了以前认为不可能实现横向决议。

　　在许多应用的纳米级半导体，医疗和精密加工领域有今天的表面特征和缺陷的尺寸限制，由于检测或鉴定的光学衍射极限。这样微乎其微的特点和缺陷往往直接影响到功能，性能，质量和/或生产的产量和极大的兴趣是研究人员和生产质量保证/质量控制人员的一致好评。布鲁克光学表面轮廓与新装备系统AcuityXR模式已显示出低于130纳米宽的特点，这是****的，在光学显微镜是近三倍比没有这种技术系统更高的分辨率。此外，AcuityXR使这种新的水平，同时保持**的宽视场的视图和布鲁克非接触式，三维光学表面分析高的性能优势。随着AcuityXR，在狭窄的可重复性三维结构已被证明比提高5倍以上的因素，除了显示其能力非常优良特性，揭示一个真实的计量利益的技术。 AcuityXR是一个可选的功能，现已布鲁克ContourGT- K1的，X3和X8的光学表面廓线仪可用。

　　“AcuityXR结合了增强的计量在ContourGT- K1的，X3和X8的系统，共同提供****的横向光学显微镜分辨率的硬件技术实现新的测量算法，从根本上说，“罗斯问：***先生，副总裁兼总经理布鲁克的手写笔和光学计量单位。 “这个了不起的新功能，这完全是对ContourGT系统上可用，是一个很大的好处向我们当前和未来的半导体，医疗和精密加工应用中的特征尺寸不断缩小，而对质量的需求不断增加的客户。

　　马克河蒙克博士，纳米表面的布鲁克业务总裁说：“AcuityXR基于业界**的性能，可重复性和ContourGT产品系列易于使用的功能建立将这一****的成就，市场真正说明布鲁克的。持续致力于提供*高的价值nanosurface计量系统，我们的工业和研发的客户。“