NI宣布举办“2006年中国PXI技术和应用论坛”

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点击量: 319852 来源: 仪器仪表与传感器网
   作为PXI技术以及PXI系统联盟(PXI Systems Alliance)的主要发起者,National Instruments(美国国家仪器中国有限公司,简称NI)宣布将于2006年4月25日在上海国际会议中心主办“2006年中国PXI技术和应用论坛(PXI Technology and Application Conference, PXI TAC)”,联手9家国内外**业内厂商和来宾共同回顾PXI问世9年以来的发展,并展望这一技术的应用前景。
PXI TAC于2003年首先在大中国地区举办,今年已经是连续第三年,并且也已成为一项全球范围内的行业盛会。

根据NI在2005年PXI TAC活动的现场问卷调查显示,71%的参会者表示非常愿意参加下一年的同类活动,高达90%的来宾将选择PXI作为他们的**测试平台。本届活动将一如既往,以NI搭建的平台为基础,联合众多国内外**企业展示PXI技术,通过丰富多样的产品展示、精彩纷呈的技术讲座和形式灵活的交流平台,为广大测试测量行业工程技术人员提供全方位的PXI知识。

“2006年中国PXI技术和应用论坛”全天的会议将分为上下午两个部分,上午两场讲座的主题为:“测试测量的应用架构”和“PXI Express总线技术及其应用前景”,下午将有2个专题和1个上机实践课程同时展开:“仪器/自动化专题”、“测试应用专题”和“PXI动手课程”,为测试测量行业的工程师和研究人员,以及对基于PXI的自动化测试系统感兴趣的用户提供学习和面对面的交流机会。