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XRF-2000PCB型X-RAY膜厚仪
镀层测厚仪,X光测厚仪,电镀层测厚仪,X-RAY膜厚仪, 镀层膜厚仪,X射线荧光金属镀层测厚仪, X射线荧光分析仪, X射线荧光检测仪等等,XRF-2000PCB型X-RAY膜厚仪 ,此仪器分为3种型号:XRF-2000H镀层测厚仪,XRF-2000L镀层测厚仪,XRF-2000PCB镀层测厚仪. 此仪器又叫: X射线镀层测厚仪,金属
德国宏德X光镀层测厚仪
德国宏德X光镀层测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任
韩国Micro Pioneer XRF 2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪
X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。
美国CalMetics 手持X光机镀层测厚仪标准片
UPA和Calmetrics镀层标准片适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray(X射线测厚仪)、 β-ray(β射线测厚仪)、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。