ICT-33C数字集成电路测试仪:可测1300种器件.可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,器件代换查询,内部RAM数据修改,EPROM、EEPROM器件读出写入.

GUT-7700 集成电路测试仪：简单易操作, 可测试模拟 IC (OP、比较器、OPTO、整流器、 Transistor Array)轻巧省电、可用电池供电平均搜寻时间：0.8 秒LCD 显示屏：一行 16 个数字测试 Pin 数：8 ~ 16 Pins测试电压：+5V

台湾固纬 GUT-6000A 集成电路测试仪（价格优惠）Loop 测试自动搜寻 IC 编号功能开机自我侦测诊断功能过载保护功能可量测之 IC 种类超过 1800 种54/74 系列 TTL, 及高速 CMOS4000 及 4500 系列 CMOS*大可测 Pin 数 : 28 Pin台湾固纬 GUT-6000A 集成电路测试仪（价格优惠）

ICT-33C+集成电路测试仪EPROM、EEPROM器件读入：ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。 EPROM、EEPROM器件写入：ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。

产品名称：GUT-7700 固纬 集成电路测试仪
产品型号：GUT-7700

GUT-6000A 集成电路测试仪 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS 4000 及 4500 系列 CMOS 55 及 75 系列 TTL

SIMI-3198集成电路测试仪功能测试、测量数据、管脚选择、数据比较等均由CPU完成，不需过多的人工干预。只需简单且较少的按键操作就能让您得到您所关心的芯片参数，或优劣程度。免去使用各种接线盒来,适配各种不同的运放/比较器的烦恼。测试操作简单，功能齐全，可按需要选取测量参数，测量结果不受人为因素影响。

①自检功能②器件型号判别③可测量超过2000种器件④可测试54/74系列TTL⑤可测试4000和4500系列CMOS⑥ *大可测40脚的IC产品规格

DT1617-ICT33A--集成电路测试仪 多功能器件检测仪详细介绍DT1617-ICT33A--集成电路测试仪 多功能器件检测仪详细介绍

集成电路测试仪 型号；SS-YBD-868