非破坏性的粉末和薄片水分监测分析仪 非破坏性的粉末和薄片水分监测分析仪
非破坏性的粉末和薄片水分监测分析仪 非破坏性的粉末和薄片水分监测分析仪

非破坏性的粉末和薄片水分监测分析仪 非破坏性的粉末和薄片水分监测分析仪利用近红外原理可以进行固体和状物料表面水分分析,对于许多应用来说,如果能够在无接触,快速和持续地取得了很大的优势。该反射光度计是一个合适的工具。例如,水分监测,是可能的纤维素,塑料颗粒,硅石,建材,而且还箔,纸张,清洁剂和营养,否则,或颗粒状的一致性与制药和化学物质。该反射光度计组成的评估设备,与光源和测量波长过滤器测量头。

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孔隙度分析仪
孔隙度分析仪

贝士德公司从2000年开始生产比表面积及粉末材料孔隙度测试,获得多项国家技术型**。该款型号可同时处理2个样品,孔隙度分析仪同时测试两个样品,并且拥有独立的P0测试位,比表面测试范围:0.01m2,/g,孔径:0.35~500nm。孔隙度分析仪具有国内**的样品预处理可选模式(“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”)。

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静态BET比表面积分析仪
静态BET比表面积分析仪

静态BET比表面积分析仪应用领域:可测试一些多孔粉末,颗粒,纤维及片状可装入样品管的材料的比表面和孔径分布,如电池材料,催化剂,稀土,矿物等静态BET比表面积分析仪测试范围:比表面0.01m2/g,以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,静态BET比表面积分析仪精度:重复性误差小于±1%

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比表面及介孔分析仪 BSD-PS2
表面及介孔分析仪

:比表面0.01m2/g以上,微孔0.35-2nm;介孔2-50nm;大孔50-500nm;样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。,测试方法: 静态容量法比表面及介孔分布检测分析站数量:具有2个样品分析站,1个P0测试站,2个样品脱气站;测试精度: 测试精度高、重现性好。重复性误差小于±2%; 比表面及介孔分布检测测试范围

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BET介孔分析仪
BET介孔分析仪

BET介孔分析仪应用领域:可测试一些多孔粉末,颗粒,纤维及片状可装入样品管的材料的比表面和孔径分布,如电池材料,催化剂,稀土,矿物等BET介孔分析仪测试范围:比表面0.01m2/g以上,微孔,:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,BET介孔分析仪BET介孔分析仪精度:重复性误差小于±1%

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数显白度仪   JC13-WSB-2
数显白度

数显白度 白度测量 白度检测 白度分析仪 型号:JC13-WSB-2主要适用于非彩色表面平整的物体或粉末的白度测量,可以准确地得出与视感度相一致的白度值。对于经荧光增白剂处理过的物体,可以定量反映荧光增光后的白度值。对于纸张的不透明度可以准确测量。  

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奥地利Anton Paar公司固体表面Zeta电位分析仪 SurPASS 3
奥地利Anton Paar公司SurPASS 3固体表面Zeta电位分析仪 SurPASS 3固体表面Zeta电位分析仪

SurPASS 3固体表面Zeta电位分析仪 奥地利Anton Paar公司SurPASS 3固体表面Zeta电位分析仪采用“增强的 SurPASS 原理”,可直接研究平固体、粉末、纤维、箔、多孔材料以及具有不同表面粗糙度的材料,无论样品,的来源、形状、尺寸或表面粗糙度如何,奥地利Anton Paar公司SurPASS 3固体表面Zeta电位分析仪均能测定并提供可靠且可重复的 zeta 电位值。用于单个样品材料测量的精巧测量单元提供了极高的应用灵活性,以满足您的质量控制和科研需求。自动化功能简化了测量和数据采集工作。

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颗粒和粉末特性测试仪 FT-2000A
多功能型颗粒和粉末特性分析仪

多功能型颗粒和粉末特性分析仪体物理特性有:粒度分布、表面积、松密度、孔隙率、真密度、粒附性、表面能、表面电荷、孔径分布、湿含量、抗张强度、剪切强度等 多功能型颗粒和粉末特性分析仪

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R3000型光谱仪拉曼系统
R3000型光谱拉曼系统

拉曼系统R-3000型光谱是一种全综合功能的拉曼分析仪器,可以实现对波长范围在200~2700cm-1的水性液体、粉末、块体、凝胶和表面介质的实时的定性和定量的光谱分析。 R-3000可以应用在多种场合,包括**学监测与质量控制、化学与石油化学过程与质量控制,毒品与**检测和水质分析等。

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HT--2000A  颗粒和粉末特性分析仪|多功能颗粒和粉末特性分析仪
HT--2000A 颗粒和粉末特性分析仪|多功能颗粒和粉末特性分析仪

HT-2000A颗粒和粉末特性分析仪,颗粒和粉末特性分析仪主要为粉末和颗粒物理特性综合分析提供一个测试平台和解决方案.体物理特性有:粒度分布、表面积、松密度、孔隙率、真密度、粒附性、表面能、表面电荷、孔径分布、湿含量、抗张强度、剪切强度等

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BET比表面分析仪
BET比表面分析仪

3H-2000PS2型BET比表面分析仪,具有2个样品预处理脱气站,2个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1.5%。测试范围:比表面0.01m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔,:2-50nm、大孔:50-500nm,样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。国内知名品牌,远销海外,获得多项国内技术**,技术国际**。

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