XJ27105型SOT-23封装器件测试装置--半导体管特性图示仪功能扩展装置与XJ4810/XJ4810A/XJ4832/XJ4830/XJ4822/XJ4822B/XJ4828/XJ4829主机配合使用，能对国内、外不同类型SOT-23封装的贴片半导体器件的静态参数进行测试，显示其特性曲线。

XD301卤素灯150W双支软管分叉光纤冷光源，改善了目前市场上使用的电子变压器电路和变压与可控硅组成的电源电路易烧灯泡的缺陷。它精心设计的大电流稳奢开关电源，使电压调节范围宽，调光电路性好；驱动电路采用新型大功率半导体器件，关键元器件采用进口品牌。XD301卤素灯双支软管分叉光纤冷光源

MT4818半导体管特性图示仪 MT4818半导体管特性图示仪是测量半导体器件直流及低频参数的专用仪器,它通过示波管屏幕及标尺刻度,准确的反映器件的特性曲线,其信息量之大是其它类型直流测试设备所达不到的,亦显示出图示仪的独特,优势,因此它是半导体器件生产厂家及整机研制部门进行半导体器件的研制,性能改善,电路设计,器件的合理应用等工作必不可少的理想测试设备。

晶体管综合快速筛选台简要介绍：该晶体管综合快速筛选台具有对半导体器件常温测试， 高温热测(不需要外加烘箱)，热敏参数的快速筛选取代直流满功率老炼三大功能，并可任意选用及组合使用。晶体管热敏参数的快速,功率前后的变化量、变化率△VBE、ICEOH和△hFE％，并以此为失效判据参量，淘汰超标的晶体管，达到剔除早期失效器件，改善产品批的质量和可靠性的目的，同时，所施加的超稳态额定功率模拟了被试管实际使用,筛选技术，是采用在短时间内(一般为数秒)对晶体管施加超稳态额定功率的办法，使晶体管的结温迅速接近或达到*高允许结温TjM，通过快速检测晶体管热敏参数VBE、ICEO（或ICBO）和hFE ,及其在加,时可能出现的浪涌电压、电流等应力，以考核被试管承受冲击的能力。其不仅能替代直流满功率老炼，快速剔除有潜在缺陷的器件，且更科学合理，并已列为行业标准SJ／T10415—93及国军标GJB128A—97。

料号：18-100000 产品介绍：防静电台垫主要用抗（导）静电材料和耗散静电材料合成橡胶等制作而成适合电子半导体器件、电子计算机、电子通讯设备和集成电路等微电子行业的生产车间和**实验室为减少或消除静电危害

系列网带链式烧结炉链式烧结炉主要用于半导体器件烧结、 封焊、焊接及集成电路金属化管壳等气密性封装，玻璃容器的烧结及各种零件在氢氮保护下进行，运载能力大，并采用水、气电转换器控制传感报警及超温保护报警功能。设有断氢报警与自动点火装置

XJ4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于

CV2000 C-V2000半导体器件C-V特性测试仪 由仪器量贩提供，021-53084219，该电容电压特性测试仪专用于测试半导体器件PN��的势垒电容在不同偏压下的电容量，也可测试其它电容。测试,频率为1MHz，基本精度：±5.0%±2字，*大偏压可达100V。可分辫到0.01pF， 偏置电压分辨力为0.1V，漏电流分辨力为0.01uA。半导体器件C-V特性测试仪 电容电压特性测试仪

冶炼、国防工业、半导体器件、机械制造、科研部门、矿石和金属材料中痕量素的定性与定量分析以及难熔氧化物中的元素分析等。

晶体管特性图示仪BJ4814型半导体管特性图示仪是测量半导体器件直流及低频参数的专用仪器,它通过示波管屏幕及标尺刻度,准确的反映器件的特性曲线,其信息量之大是其它类型直流测试设备所达不到的,亦显示出,图示仪的独特优势,因此它是半导体器件生产厂家及整机研制部门进行半导体器件的研制,性能改善,电路设计,器件的合理应用等工作必不可少的理想测试设备。　

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