工业CT知识大全

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工业CT 的发展

  (一)**代工业CT (平移+旋转扫描方式)

  **代工业CT 由一只X 线管和1 个晶体探测器组成。由于X 线束被准直器准直为铅笔芯粗细的笔形线束,故又称笔形束工业CT。X 线管与探测器连为一体,X线管产生的笔形束穿过试样照射到与其相对的探测器上,X 线管和探测器先做同步直线平移扫描运动。获得2 4 0 个透射测量数据后,X 线管和探测器停止平移,再环绕试样中心旋转1°,做与上次方向相反的直线扫描运动。获得2 4 0 个测量数据后,停止平移,再旋转1°,重复上述过程,直到180°,得到1 8 0 组由2 4 0 个测量数据组成的平行投影值,即完成了数据的采集过程,用于图像重建的数据个数为1 8 0×2 40。**代工业CT 的缺点是:X 线利用率很低;扫描时间长,检查一个层面需用3 ~ 5 m i n。因扫描速度慢,且采集的数据少,故重建的图像质量较差。**代工业CT 已被淘汰。

  (二)**代工业CT (平移+旋转扫描方式)

  **代工业CT 与**代工业CT 没有质的区别。如图1 2 - 2 所示,它是在**代工业CT 的基础上,由单一笔形束改为扇形线束,由一只X 线管和3 ~ 3 0 个晶体探测器组成。由于X 线束为5°~ 2 0°的小扇形束,所以又称小扇束工业CT。由呈扇形排列的多个探测器代替单一的探测器,每次平移扫描后的旋转角由1°提高到扇面夹角角度,这样旋转1 8 0°时,扫描时间缩短到2 0 ~ 9 0 s,**代快速工业CT有3 0 个以上的探测器,扫描时间显著减少。为了提高图像质量,也有的采用2 4 0°、3 6 0°平移加旋转扫描,这种工业CT 比**代工业CT 各项指标均有提高。它们的主要缺点是:在扫描过程中易产生伪影。

  (三)第三代工业CT (旋转扫描方式)

  第三代工业CT 的扇形角较宽(30°~ 45°),可包含整个试件扫描层面,所以又称为广角扇束工业CT,探测器增加到3 0 0 ~ 4 0 0 0 个,逐个依次无空隙的排列。扫描时,试件无需再做直线平移运动,仅做连续旋转运动即可。因此,大大缩短了扫描时间,故试件扫描时间可缩短到2 ~ 9 s 或更短。第三代工业CT 的优点是:结构较简单,使用操作方便,可获得较理想的工业CT 图像。

  (四)第四代工业CT (锥束扫描方式)

  第四代工业CT 使用面阵探测器代替线阵探测器,使用锥束扫描代替扇束扫描。同二维的扇束、平行束相比,三维锥束CT 的射线利用率更高,需要的扫描时间更短;与二维扇束CT 相比,锥束体积CT 具有同时扫描数百个断层的能力,并能获得各向(X 和Y 方向)均匀、高精度的空间分辨率。锥束CT 的解析重建算法在数学计算上比较复杂,由于其运算量较大,工程上实现起来也有一定的困难,但是随着近几年硬件和算法的快速发展,三维锥束CT 变得越来越普及,并被广泛地应用于各个行业中。 由于二维扇束CT 在Y 方向分辨率很低,无法用于逆向工程和快速成型制造。

  

工业CT采购要点

  对于工业CT这样**技术的产品,很多朋友才采购的时候往往会感到迷茫,那么采购工业CT要考虑哪些问题呢?首先要清楚自己的需要时什么,即要选择的工业CT产品是否可以满足自己的需要,其次要选择信用好售后完善的公司,就产品的技术参数要做到心中有数,这样在收货的时候可以避免遗漏了某些重要的配件装置。

  不过一台工业CT 显然还有很多重要的问题,如射线源(加速器还是X 射线机,*大能量、束流强度甚至生产厂家等等)、辐射探测器(类型、闪烁体材料、尺寸、探测单元数量等)、准直器(材料、式样、尺寸等等)、电子电路(如A/D 变换位数、数量、型号等等)、机械扫描系统(加工精度、丝杠导轨技术参数等)、扫描电控系统(采用驱动电机或位置传感器的种类或技术参数)、计算机硬件(CPU 数量、速度、型号,内存大小等)、计算机软件(重建算法、通讯方式等)。

  总之,由于CT 产品的各项技术指标的测定本身比较复杂,采购者应当在购买者和提供者*初签订合同时给于足够细致的考虑才能减少*后的麻烦。

  

国内工业CT标准

  GJB 5311-2004 《工业CT系统性能测试方法》

  GJB 5312-2004 《工业射线层析成像(CT)检测》

  QJ 3102-1999 《航天火工装置γ射线工业CT检验方法》

  ASTM 工业CT标准:

  ASTM E1441-2000 Standard Guide for Computed Tomography (CT) Imaging

  ASTM E1441-00《计算机层析 (CT) 成像指南》

  ASTM E1570-2000 Standard Practice for Computed Tomographic (CT) Examination

  ASTM E1570-00《计算机层析检验技术规范》

  ASTM E1695-1995 Standard Test Method for Measurement of Computed (2001) Tomography (CT) System Performance

  ASTM E1695-95《计算机层析(CT)系统性能测量的试验方法》

  ASTM E1672-1995 Standard Guide for Computed Tomography (CT) System (2001) Selection

  ASTM E1672-95《计算机层析(CT)系统选择指南》

  ASTM E1814-1996 Standard Practice for Computed Tomographic (CT) (2002) Examination of Castings

  ASTM E1814-96《铸件计算机层析(CT)检查技术规范》

  ASTM E1935-1997 Standard Test Method for Calibrating and Measuring CT Density

  ASTM E1935-97《校准和测量计算机层析 (CT) 黑度的试验方法》