Felles 显微薄膜测量仪 FR-uProbe

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产品型号：FR-uProbe

品牌：Felles

公司名称：孚光精仪(中国)有限公司

所在地：天津南开区

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产品简介

Felles 显微薄膜测量仪是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。Felles 显微薄膜测量仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。

产品详细信息

Felles 显微薄膜测量仪是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。Felles 显微薄膜测量仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。

Felles 显微薄膜测量仪特点

光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜适配器+软件+显微镜（可选）。

其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。

标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。

更高倍数的物镜的测量点更小。

整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，

仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。

Web: www.felles.cn                    （激光光学精密仪器官网）
         www.felles.cc                     （综合性测试仪器官网）
   www.f-lab.cn     （综合性实验室仪器**官网）

Felles 显微薄膜测量仪软件
这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。
对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。

对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够**测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米），光学常量（n & k)。

Felles 显微薄膜测量仪标准参数
可测膜厚： 10nm-150微米；
波长范围：200-1100nm
精度：0.5%
分辨率：0.02nm
光源：使用显微镜光源
光斑大小：由显微镜物镜决定
计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；
尺寸：120x120x120mm
重量：1.2kg

Felles 显微薄膜测量仪应用
测量薄膜吸收率,透过率
测量化学薄膜和生物薄膜测量
光电子薄膜结构测量
半导体制造
聚合物测量
在线测量
光学镀膜测量